更新日期: 2024-04-27

X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO_2含量

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X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO_2含量 4.5

本法采用压片的方式将样品压制成片,通过X-射线荧光光谱仪来测定石灰石粉中的SiO2含量,本方法操作简便,分析周期短,结果符合允许误差要求,可用于生产检验。

X射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO、SiO_2 X射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO、SiO_2 X射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO、SiO_2

X射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO、SiO_2

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选用石灰石标准样品,采用粉末压片法制样,建立测定石灰石中cao、mgo、sio_2的x射线荧光光谱分析方法。确定了最佳分析参数,建立了标准曲线,并采用数学模型校正基体效应。通过准确度与精密度的试验表明,分析结果准确,重复性好。

X射线荧光光谱法测定石灰石中的硫含量 X射线荧光光谱法测定石灰石中的硫含量 X射线荧光光谱法测定石灰石中的硫含量

X射线荧光光谱法测定石灰石中的硫含量

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石灰石是炼钢过程中的添加剂,具有造渣和脱硫的功能。针对石灰石中的化学成分检测需要用两种方法、过程繁琐、耗时长的问题,研究了用x射线荧光光谱法测定石灰石中的硫含量。将石灰石中各元素的含量检测均采用x射线荧光光谱法,具有操作简单、耗时短的优点。试验结果表明,该方法的准确性和稳定性均能满足日常生产分析要求。

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X-射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO含量 X-射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO含量 X-射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO含量

X-射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO含量

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X-射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO含量 4.5

提出采用x-射线荧光光谱法测定石灰石中cao、mgo含量。将石灰石样品进行磨细处理,在压片机上制成样片。在x射线荧光光谱仪上按照选定的分析条件,以标准样品做工作曲线,根据工作曲线测定样品含量。通过与国家标准化学法对照,分析结果基本一致。该方法简便、快速、准确、重现性好。

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熔融制样-X射线荧光光谱法测定石灰石中5种组分 熔融制样-X射线荧光光谱法测定石灰石中5种组分 熔融制样-X射线荧光光谱法测定石灰石中5种组分

熔融制样-X射线荧光光谱法测定石灰石中5种组分

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熔融制样-X射线荧光光谱法测定石灰石中5种组分 4.7

以标准样品及人工配制校准样品共同绘制校准曲线,无需对石灰石中的碳酸盐进行烧损校正,直接采用无水四硼酸锂熔剂熔融石灰石样品,以x射线荧光光谱法测定石灰石中cao、mgo、sio2、al2o3、fe2o3含量。探讨确定样品与熔剂的稀释比例为1∶10;预熔温度为900℃,时间为80s、熔融温度为1100℃,熔融时间为300s;无须进行烧失量及基体干扰校正,可直接测定石灰石中5种主要成分。对石灰石测定成分进行了精密度考察,结果的相对标准偏差(n=10)在0.28%~4.9%之间。采用方法对石灰石标准样品及实际样品进行测定,结果与认定值或其他方法的测定值相吻合。

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χ-射线荧光光谱法测定石灰成分 4.4

本文介绍了一种利用x-射线荧光光谱仪测定石灰中各物质含量的方法。该方法操作简单,能够快速、准确地测定石灰成分,目前在我公司得到普遍应用。

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采用熔融法制样,做了共存元素的谱线干扰校正,利用灼减量计算元素的含量,通过xrf荧光光谱法测石灰石、白云石cao、mgo含量,取得满意结果。

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使用粉未压片法制取样品,x射线荧光光谱法测定大理石中氯含量。确定了方法最佳测定条件,该方法操作简便,分析速度快,条件易控制,氯元素的相对标准偏差(rsd)为5.7%。经大量实验证明,采用本方法测定,分析时间短,准确度较高,结果令人满意。

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能量色散-X射线荧光光谱法测定荧光灯中汞含量 4.7

汞是一种剧毒化学物质,对环境的污染非常强,同时也是可引起人体器官和大脑损伤的神经毒素,所谓的"水俣病"即是汞污染造成的病症,人体受到过量汞的污染甚至还会致死。随着国家节能减排、绿色照明以及"逐步淘汰白炽灯"相关政策的实施推广,荧光灯行业保持着高速增长。随着节能灯推广数量的不断增加,节能灯报废后的汞污染越来越引起人们的关注。政府和消费

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X射线荧光光谱法测定含金石英石中7种成分 4.4

采用粉末直接压片,波长色散多道荧光光谱法快速测定含金石英石样品中sio2、al2o3、tfe2o3、cao、mgo、pb、zn等7种成分。根据含金石英石中sio2的含量范围,选取了与试样基体相匹配的含金石英生产样作为校准样品,采用化学法准确定值,确定了仪器的最佳分析参数。对于si和al轻元素,荧光强度随粒度变化较为显著;制作的校准样品应密封保存,粉末压片后需马上进行测试。方法操作简单,成本低,测定范围宽,灵敏度高,精密度(rsd,n=11)均小于2.5%。与化学法对照,结果符合较好。

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石灰石粉 4.6

石灰石粉在混凝土中应用分析 摘要:石灰石粉作为混凝土中的掺合料,是发展绿色混凝土的有效途径。阐述当前国内混凝 土中掺石灰石粉的研究现状,掺适量石灰石粉可以改善混凝土结构,增强混凝土和易性,提 高低温下混凝土抗硫酸盐侵蚀性,前景可观。 关键词:石灰石粉、混凝土、掺量、抗硫酸盐侵蚀性 1.概况 我国水泥混凝土结构的耐久性问题十分严重,水泥基材料硫酸盐与氯盐的侵蚀现象十分 普遍,局部地区还受到硫酸盐与氯盐的双重侵蚀。沿海港口、盐田及盐渍土地区,通常含有 大量硫酸盐及氯盐,对混凝土及钢筋具有严重侵蚀作用,使该地区的钢筋混凝土结构物遭到 严重破坏,建筑物也受到双重腐蚀,达不到结构的预期寿命。 20世纪30年代以来,混凝土主要以粉煤灰为掺和料,不但减少了水泥用量,而且提高 了混凝土的强度,也增强了混凝土的耐久性。然而,近年随着水电建设、工民建等行业的迅 猛发展,粉煤灰需求

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石灰石粉 4.7

石灰石粉(碳酸钙)用途 2013-6-210:51:17点击:36 石灰石是常见的一种非金属矿产。我国石灰石矿产资源丰富,占世界总储量的64%以上,是一种具有优势 的天然资源。目前国外较发达国家如日本、美国等在石灰石利用和深加工方面成果累累,专利有400~500 项。随着国外高档碳酸钙材料、填料进入中国市场,促进了国内的技术进步,加快了我国碳酸钙深加工品种的 快速增长,并向着多元化、专业化、精细化方向迅速发展,拓展开更多的应用领域。 1.石灰石用途 石灰石用途广泛,产品市场前景看好,但因为石灰石在中国面广量丰,无地方资源优势可言,必须靠实力和 其他优势获取市场份额。因此,面对这一资源,在开发应用时,应慎重选择,取最短的工序,最可能简单的方法, 最现实的市场,以低成本、高质量,提高市场竞争能力。综合国内外石灰石产品深加工发展

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X荧光光谱压片测石灰石中的钙镁硅 4.6

在特殊的石灰石分析中采用了无标样分析软件uniquant/内标归一法和kappa修正法,分析结果与标准化学法数据一致,在标样无法监控的情况下,可以做为特殊的石灰石分析的常规方法。

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离子色谱法测定石灰石粉中碳酸钙含量 4.5

本文建立了一种快速评价钻井液用石灰石粉性能的方法。应用离子色谱仪(ic)测定石灰石粉中碳酸钙含量。该方法避免了传统滴定法的操作繁琐和终点判定要求高等的缺点,钙的检出限可达0.01mg/l。在实验条件下,在5.0~20.0mg/l范围内具有良好的线性关系(r=0.9998),加标回收率均在100%以上,相对标准偏差(rsd)为1.5~2.0%(n=6)。实验结果表明,应用离子色谱方法可以准确评价钻井液用石灰石粉性能。

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X射线荧光光谱法测定钢铁材料中硫、磷含量 4.6

常用钢材中,硫、磷属于有害杂质元素,硫元素增加钢铁产生"热脆"倾向,磷元素增加钢铁产生"冷脆"倾向。因此,钢材中的磷、硫含量通常要求被严格控制。以压力容器用钢材为例,碳素钢和低合金钢中磷含量要求不大于0.035%、硫含量要求不大于0.035%;低温用钢更为严格,磷含量要求不大于0.020%、硫含量要求不大于0.010%。

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X-射线荧光光谱法测定废塑料表面金属涂层含量

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X-射线荧光光谱法测定废塑料表面金属涂层含量 4.8

本文提出了利用x-荧光仪测定废塑料各种金属涂层中金属元素含量的方法。以稳定性为优化原则选择了仪器针对不同元素的测量条件,研究了实验过程中样品杯、基材以及金属涂层中元素效应对检测结果的影响;方法精密度为0.008%~0.044%之间;将x-荧光检测结果与icp检测结果进行比对并得出同样的数据,该方法为控制废塑料金属涂层产生的危害和污染提供更为合理的检测手段,并已应用到实际检测当中。

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X射线荧光光谱法测定电缆非金属材料卤素含量 4.4

卤素含量作为电缆和光缆产品的重要参数,产品标准引用的测试方法存在精度不够、测试过程繁琐等诸多缺陷。使用x射线荧光光谱法进行测定,将显著提高测试精度及测试效率。

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火焰原子吸收光谱法间接测定石灰石中氯含量 4.5

提出了用硝酸溶解样品,以火焰原子吸收光谱间接测定石灰石中氯含量的分析方法。采用先往样品与校准曲线溶液中加入等量的氯离子,然后再往样品溶液中加入过量银离子使样品溶液及校准曲线溶液形成氯化银饱和溶液的方法,解决了火焰原子吸收间接法测定氯含量时微量悬浮氯化银及氯化银溶解性对测定的影响问题。在溶样过程中加入过硫酸铵氧化除去s2-、i-及大部分br-等干扰离子,避开了过滤、蒸馏等繁琐且易受污染的操作步骤。方法相对标准偏差(rsd,n=9)为0.3%~7.0%。经国家标准物质验证,测定值与认定值基本符合。

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X射线荧光光谱法分析石灰石、白云石类原料中成分 4.7

采用熔融法制样,用标准样品制作工作曲线,对分析结果进行稀释率的校正,x射线荧光光谱法分析石灰石、白云石、白灰、轻烧白云石中sio2,cao,mgo,fe2o3,al2o3,p2o5的含量。测定结果与化学法相符,cao,mgo,sio2的相对标准偏差分别为021%,043%,094%。

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荧光光谱法在分析冶金石灰中的应用 4.8

介绍了荧光光谱法分析冶金石灰工作曲线的制作,试验了试样粒度、压片压力、压片的保压时间对分析结果的影响,得出了最佳的分析条件。用该方法分析结果准确、快速,分析成本低,满足了降成本、快速生产的需要。

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X射线荧光光谱法测定高锰钢中锰的方法 4.5

建立了应用波长色散x射线荧光光谱法测定高锰钢中锰元素的分析方法,实验确定了仪器最佳工作参数。通过背景扣除和干扰校正系数法消除基体干扰和共存元素cr、p的光谱干扰,采用经验系数法建立工作曲线,线性相关系数为0.9998。实验结果表明,方法的检出限为2.1μg/g,方法分析范围为1.00%~20.00%,测定结果与标准物质的认定值一致,相对标准偏差小于0.200%,该分析方法快速、准确,满足高锰钢中锰的分析精度要求。

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X射线荧光光谱法测定镀锌钢板镀层质量

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X射线荧光光谱法测定镀锌钢板镀层质量 4.5

提出了用x射线荧光光谱法测定镀锌钢板镀层(包括锌层、锌铁合金层、钝化层、磷化层和耐指纹层等)的质量。详细叙述了用于上述各层测定所需的系列标准样品的制备方法,分别通过对各不同层的特征组分的荧光强度进行测定,并根据校准曲线计算,分别得到各不同层的单位面积质量(g·m-2)。根据测定各不同组分时谱线荧光强度的强弱,选择不同的测量时间,试验选择直径为30mm的测量面积。采用与样品相同类型的标准样品作校准曲线,重复10次测定6种镀层样品,其测定值的相对标准偏差在0.10%~0.32%之间。各镀层的测定值与重量法及电感耦合等离子体原子发射光谱法的测定值相比,经t-检验法验证(α=0.05),不存在显著差异。

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X射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中多元素 4.6

以四硼酸锂为熔剂,采用1:11为熔剂稀释比,于1050℃熔融硅质耐火材料样品,制成玻璃样片,采用波长色散型x射线荧光光谱仪同时测定样品中sio2、a1203等多元素,用硅石标准样品经同方法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线。制取7个平行样片测定各组分含量,数据吻合较好,该方法能够满足日常分析需要。

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以四硼酸锂为熔剂,采用1:11为熔剂稀释比,于1050℃熔融硅质耐火材料样品,制成玻璃样片,采用波长色散型x射线荧光光谱仪同时测定样品中sio2、a1203等多元素,用硅石标准样品经同方法测定并对测定结果进行理论α系数校正后绘制工作曲线。制取7个平行样片测定各组分含量,数据吻合较好,该方法能够满足日常分析需要。

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王桠林

职位:注册环境影响评价师

擅长专业:土建 安装 装饰 市政 园林

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