电子设备热设计及分析技术基本信息

中文名称 电子设备热设计及分析技术 作者 余建祖 谢永奇
出版时间  2008年11月 开本  16开

电子设备热设计及分析技术一书介绍电子元器件、组件及整机设备或系统的热设计、热分析技术及其相关理论。其中包括电子设备热设计的理论基础概述,电子设备用肋片式散热器及冷板设计,机箱和电路板的传导冷却及风冷设计,微电子器件与组件的热设计,电子设备的辐射冷却和相变冷却,热管散热及热电制冷在电子设备热设计中的应用,电子设备的瞬态冷却,电子设备热设计技术的新进展等。对上述各种热设计及分析技术所涉及的传热学和流体力学的基础理论,也进行了介绍。

"电子设备热设计及分析技术"是为解决电子元器件及设备的温升控制问题而发展起来的新学科。

书中给出大量公式、曲线、图表和具体的技术参数,各部分内容均配有实际设计计算例题,供工程应用时参考。

《电子设备热设计及分析技术》可作为高等院校相关专业研究生教材,亦可供从事电子设备热设计、结构设计和可靠性技术研究的科研工作者、工程技术人员以及从事飞行器与其他运载工具的热控制、环境控制和低温制冷工程的专业人员阅读。

电子设备热设计及分析技术造价信息

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天健创新

13% 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
COD分析 型号:TEM-COD9000 查看价格 查看价格

天健创新

13% 天健创新(北京)监测仪表股份有限公司
氨氮分析 型号:TEM-NH3N9000 查看价格 查看价格

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第1章 电子设备热设计的理论基础概述

1.1 引言

1.2 热源与热阻

1.3 传热的基本方式及有关定律

1.3.1 导热(热传导)

1.3.2 对流换热

1.3.3 辐射换热

1.4 热控制方法的选择

1.5 稳态传热

1.6 瞬态传热

1.7 耗散功率的规定

1.8 电子器件的理论耗散功率

1.8.1 理论耗散功率

1.8.2 有源器件的耗散热

1.8.3 无源器件的耗散热

思考题与习题

第2章 电子设备用肋片式散热器

2.1 概述

2.2 肋片散热器的传热性能

2.3 针肋散热器及其他断面肋

2.4 肋片参数的优化

2.5 散热器在工程应用中的若干问题

2.5.1 散热器的热阻

2.5.2 散热器与元器件的合理匹配

思考题与习题

第3章 电子设备用冷板设计

3.1 概述

3.2 冷板的结构类型

3.2.1 冷板常用肋片形式

3.2.2 盖板、底板及隔板

3.2.3 封条

3.3 冷板传热表面的几何特性

3.4 无相变工况下冷板传热表面的传热和阻力特性

3.4.1 传热和阻力特性的经验关系式

3.4.2 扩展表面的试验数据和关系式

3.4.3 强迫液体流动的基本方程

3.5 冷板的压力损失

3.6 冷板传热计算中的基本参数和方程

3.7 冷板的设计计算

3.7.1 冷板的校核性计算

3.7.2 冷板的设计性计算

3.8 冷板式强迫液体冷却系统

3.8.1 液体冷却系统用泵

3.8.2 存储和膨胀箱

3.8.3 液体冷却剂

思考题与习题

第4章 机箱和电路板的传导冷却

4.1 集中热源的稳态传导

4.2 均匀分布热源的稳态传导

4.3 铝质散热芯电路板

4.4 非均匀截面壁的机箱

4.5 二维热阻网络

4.6 空气接触面的热传导

4.7 接触面在高空的热传导

4.8 电路板边缘导轨

思考题与习题

第5章 机箱和电路板的风冷设计

5.1 引言

5.2 印制电路板机箱的自然对流冷却

5.2.1 印制电路板之间的合理间距

5.2.2 自然对流换热表面传热系数的计算式

5.2.3 自然对流热阻网络

5.2.4 自然冷却开式机箱的热设计

5.2.5 自然冷却闭武机箱的热设计

5.2.6 闭合空间内空气的等效自然对流换热表面传热系数

5.2.7 高空对自然对流散热的影响

5.3 印制电路板机箱的强迫通风设计

5.3.1 风机的选择

5.3.2 风道设计

5.3.3 高空条件对风扇冷却系统性能的影响

5.3.4 强迫对流换热表面传热系数的实验关联式

思考题与习题

第6章 电子元器件与组件的热设计

第7章 电子设备的辐射冷却

第8章 电子设备的相变冷却

第9章 热管散热器的设计

第10章 热电制冷器

第11章 电子设备的瞬态冷却

第12章 电子设备热设计技术的新进展

附录 电子设备热性能实验大纲与指导书

参考文献

……

书 名: 电子设备热设计及分析技术

作 者:余建祖 谢永奇

出版社: 北京航空航天大学出版社

出版时间: 2008年11月

ISBN: 9787811244915

开本: 16开

定价: 45.00 元

电子设备热设计及分析技术常见问题

  • 电子设备和电气设备的区别?

    电子设备着重弱电(就是低压电)的,像移动通信用的交换机,网络接口设备,移动里面的大部分设备都是这类产品,包括我们用的手机 mp3都是电子设备。而电气设备主要偏重强电,就是220v左右的,像工厂里面控制...

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    电磁脉冲能使晶体二极管、晶体管、集成电路、电阻及电容、滤波器、继电器和粒波器等电子元器件受到损坏;可以与电缆、导线和天线等耦合,把电磁脉冲的能量传递给电子设备,引起电子设备的失效或损坏、电路开关跳闸和...

电子设备热设计及分析技术文献

某电子设备热设计分析与工程设计 某电子设备热设计分析与工程设计

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页数: 1页

评分: 4.4

随着电子产品的飞速发展,雷达等电子设备集成度的不断提高,热设计成为电子设备结构设计中的重要部分。本文通过对某电子设备的热分析及热计算,进而对该雷达进行了总体热设计理论校核分析,并通过高低温及外场试验进行了验证。

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电子设备的隔振技术及减振器选型 电子设备的隔振技术及减振器选型

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页数: 13页

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. . 电子设备的隔振技术及减振器选型 1、概述 电子设备受到的机械力的形式有多种, 其中危害最大的是振动和 冲击,它们引起的故障约占 80%。它们造成的破坏主要有两种形式, 其一是强度破坏: 设备在某一激振频率下产生振幅很大的共振, 最终 振动加速度所引起的应力超过设备所能承受的极限强度而破坏; 或者 由于冲击所产生的冲击应力超过设备的极限强度而破坏。 其二是疲劳 破坏:振动或冲击引起的应力虽远低于材料的强度, 但由于长时间振 动或多次冲击而产生的应力超过其疲劳极限,使材料发生疲劳损坏。 系统的振动特性受三个参数的影响,即质量、刚度和阻尼。对于电子 设备的振动和冲击隔离来说, 隔振系统的质量一般是指电子设备的质 量,而刚度和阻尼则由设备的支撑装置提供。在机械环境的作用下, 尤其是在舰船、坦克、越野车辆、飞机等运载工具中,设备及其内部 的电子器件、机械结构等都难以承受振动冲击的干扰。

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热分析差示扫描量热(DSC)

差示扫描量热法是在程序控制温度下,测量输给物质和参比物的功率差与温度关系的一种技术。可分为功率补偿型DSC和热流型DSC。

功率补偿DSC原理图:

功率补偿型的DSC是内加热式,装样品和参比物的支持器是各自独立的元件,在样品和参比物的底部各有一个加热用的铂热电阻和一个测温用的铂传感器。它是采用动态零位平衡原理,即要求样品与参比物温度,无论样品吸热还是放热时都要维持动态零位平衡状态,也就是要保持样品和参比物温度差趋向于零。DSC测定的是维持样品和参比物处于相同温度所需要的能量差(ΔW=dH/dt),反映了样品焓的变化。

热流型DSC原理图:

1、鏮铜盘;2、热电偶结点;3、镍铬板;4、镍铝板;5、镍铬丝;6、加热块。

热流型DSC是外加热式,采取外加热的方式使均温块受热然后通过空气和康铜做的热垫片两个途径把热传递给试样杯和参比杯,试样杯的温度有镍铬丝和镍铝丝组成的高灵敏度热电偶检测,参比杯的温度由镍铬丝和康铜组成的热电偶加以检测。由此可知,检测的是温差ΔT,它是试样热量变化的反映。

这项技术被广泛应用于一系列应用,它既是一种例行的质量测试和作为一个研究工具。该设备易于校准,使用熔点低,是一种快速和可靠的热分析方法。 可以测定多种热力学和动力学参数,例如比热容、反应热、转变热、相图、反应速率、结晶速率、高聚物结晶度、样品纯度等。该法使用温度范围宽(-175~725℃)、分辨率高、试样用量少。适用于无机物、有机化合物及药物分析。同时差示扫描量热法能定量地测定各种热力学参数,灵敏度高,工作温度可以很低,所以它的应用很宽,特别适用于高分子、液晶、食品工业、医药和生物等领域的研究工作 。

热分析差热分析(DTA)

差热分析法是以某种在一定实验温度下不发生任何化学反应和物理变化的稳定物质(参比物)与等量的未知物在相同环境中等速变温的情况下相比较,未知物的任何化学和物理上的变化,与和它处于同一环境中的标准物的温度相比较,都要出现暂时的增高或降低。降低表现为吸热反应,增高表现为放热反应。可分为密封管型DTA、高压DTA仪、高温DTA仪和微量DTA仪。

差热分析原理图:

一般的差热分析装置由加热系统、温度控制系统、信号放大系统、差热系统和记录系统等组成。有些型号的产品也包括气氛控制系统和压力控制系统。

当给予被测物和参比物同等热量时,因二者对热的性质不同,其升温情况必然不同,通过测定二者的温度差达到分析目的。以参比物与样品间温度差为纵坐标,以温度为横座 标所得的曲线,称为DTA曲线。

在差热分析中,为反映这种微小的温差变化,用的是温差热电偶。它是由两种不同的金属丝制成。通常用镍铬合金或铂铑合金的适当一段,其两端各自与等粗的两段铂丝用电弧分别焊上,即成为温差热电偶。

在作差热鉴定时,是将与参比物等量、等粒级的粉末状样品,分放在两个坩埚内,坩埚的底部各与温差热电偶的两个焊接点接触,与两坩埚的等距离等高处,装有测量加热炉温度的测温热电偶,它们的各自两端都分别接人记录仪的回路中。

在等速升温过程中,温度和时间是线性关系,即升温的速度变化比较稳定,便于准确地 确定样品反应变化时的温度。样品在某一升温区没有任何变化,即也不吸热、也不放热,在温差热电偶的两个焊接点上不产生温差,在差热记录图谱上是一条直线,已叫基线。如果在某一温度区间样品产生热效应,在温差热电偶的两个焊接点上就产生了温差,从而在温差热电偶两端就产生热电势差,经过信号放大进入记录仪中推动记录装置偏离基线而移动,反应完了又回到基线。吸热和放热效应所产生的热电势的方向是相反的,所以反映在差热曲线图谱上分别在基线的两侧,这个热电势的大小,除了正比于样品的数量外,还与物质本身的性质有关。不同的物质所产生的热电势的大小和温度都不同,所以利用差热法不但可以研究物质的性质,还可以根据这些性质来鉴别未知物质。

其特点有:

1)含水化合物

对于含吸附水、结晶水或者结构水的物质,在加热过程中失水时,发生吸热作用,在差热曲线上形成吸热峰。

2)高温下有气体放出的物质

一些化学物质,如碳酸盐、硫酸盐及硫化物等,在加热过程中由于CO2、SO2等气体的放出,而产生吸热效应,在差热曲线上表现为吸热峰。不同类物质放出气体的温度不同,差热曲线的形态也不同,利用这种特征就可以对不同类物质进行区分鉴定。

3)矿物中含有变价元素

矿物中含有变价元素,在高温下发生氧化,由低价元素变为高价元素而放出热量,在差热曲线上表现为放热峰。变价元素不同,以及在晶格结构中的情况不同,则因氧化而产生放热效应的温度也不同。

4)非晶态物质的重结晶

有些非晶态物质在加热过程中伴随有重结晶的现象发生,放出热量,在差热曲线上形成放热峰。此外,如果物质在加热过程中晶格结构被破坏,变为非晶态物质后发生晶格重构,则也形成放热峰。

5)晶型转变

有些物质在加热过程中由于晶型转变而吸收热量,在差热曲线上形成吸热峰。因而适合对金属或者合金、一些无机矿物进行分析鉴定。

DSC和DTA仪器装置相似,所不同的是在试样和参比物容器下装有两组补偿加热丝,当试样在加热过程中由于热效应与参比物之间出现温差ΔT时,通过差热放大电路和差动热量补偿放大器,使流入补偿电热丝的电流发生变化,当试样吸热时,补偿放大器使试样一边的电流立即增大;反之,当试样放热时则使参比物一边的电流增大,直到两边热量平衡,温差ΔT消失为止。换句话说,试样在热反应时发生的热量变化,由于及时输入电功率而得到补偿,所以实际记录的是试样和参比物下面两只电热补偿的热功率之差随时间t的变化关系。如果升温速率恒定,记录的也就是热功率之差随温度T的变化关系。

热分析热重分析(TGA)

热重分析法(TG)是在程序控制温度下测量物质质量与温度关系的一种技术。许多物质在加热过程中常伴随质量的变化,这种变化过程有助于研究晶体性质的变化。如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象,也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。

TG分析曲线:

当被测物质在加热过程中有升华、汽化、分解出气体或失去结晶水时,被测的物质质量就会发生变化。这时热重曲线就不是直线而是有所下降。通过分析热重曲线,就可以知道被测物质在多少度时产生变化,并且根据失重量,可以计算失去了多少物质。

热重分析仪主要由天平、炉子、程序控温系统、记录系统等几个部分构成。

最常用的测量的原理有两种,即变位法和零位法。所谓变位法,是根据天平梁倾斜度与质量变化成比例的关系,用差动变压器等检知倾斜度,并自动记录。零位法是采用差动变压器法、光学法测定天平梁的倾斜度,然后去调整安装在天平系统和磁场中线圈的电流,使线圈转动恢复天平梁的倾斜,即所谓零位法。由于线圈转动所施加的力与质量变化成比例,这个力又与线圈中的电流成比例,因此只需测量并记录电流的变化,便可得到质量变化的曲线。

通过TGA 实验有助于研究晶体性质的变化,如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象;也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。热重分析通常可分为两类:动态(升温)和静态(恒温)。热重法试验得到的曲线称为热重曲线(TG曲线),TG曲线以质量作纵坐标,从上向下表示质量减少;以温度(或时间)作横坐标,自左至右表示温度(或时间)增加 。

热分析热机械分析(DMA)

动态热机械分析是通过对材料样品施加一个已知振幅和频率的振动,测量施加的位移和产生的力,用以精确测定材料的粘弹性,杨氏模量(E*)或剪切模量(G*)。 可分为:

1、热膨胀法

热膨胀法是在程序控温下,测量物质在可忽略负荷时尺寸与温度关系的技术。

2、静态热机械分析法

静态热机械分析法是在程序控温下,测量物质在非振动负荷下的温度与形变关系的技术。

3、动态热机械分析法

动态热机械分析法是在程序控温下, 测量物质在振动载荷下的动态模量或力学损耗与温度的关系的技术。

DMA主要应用于:玻璃化转变和熔化测试,二级转变的测试,频率效应,转变过程的最佳化,弹性体非线性特性的表征,疲劳试验,材料老化的表征,浸渍实验,长期蠕变预估等最佳的材料表征方案。

热分析技术能快速准确地测定物质的晶型转变、熔融、升华、吸附、脱水、分解等变化,对无机、有机及高分子材料的物理及化学性能方面,是重要的测试手段。热分析技术在物理、化学、化工、冶金、地质、建材、燃料、轻纺、食品、生物等领域得到广泛应用。

电子设备的机壳是接受设备内部热量,并通过它将热量散发到周围环境中去的一个重要热传递环节。机壳的设计在采用自然散热和一些密闭式的电子设备中显得格外重要。试验表明,不同结构形式和涂覆处理的机壳散热效果差异较大。机壳热设计应注意下列问题:

(1)增加机壳内外表面的黑度,开通风孔(百叶窗)等都能降低电子设备内部元器件的温度;

(2)机壳内外表面高黑度的散热效果比两测开百叶窗的自然对流效果好,内外表面高黑度时,内部平均降温20℃左右,而两侧开百叶窗时(内外表面光亮),其温度只降8℃左右;

(3)机壳内外表面高黑度的降温效果比单面高黑度的效果好,特别是提高外表面黑度是降低机壳表面温度的有效办法;

(4)在机壳内外表面黑化的基础上,合理地改进通风结构(如顶板、底板、左右两侧板开通风孔等),加强空气对流,可以明显地降低设备的内部温度环境;

(5)通风口的位置应注意气流短路而影响散热效果,通风孔的进出口应开在温差最大的两处,进风口要低,出风口要高。风口要接近发热元件,是冷空气直接起到冷却元件的作用;

(6)在自然散热时,通风孔面积的计算至关重要,图3示出了通风孔面积与散热量的关系,可供设计通风口时作依据,亦可根据设备需要由通风口的散热量用下式计算通风孔的面积。

S0=Q/7.4×10-5·H · △t1. 5 (4)

式中:

S0——进风口或出风口的总面积〔cm2〕;

Q——通风孔自然散热的热量〔设备的总功耗减去壁面自然对流和辐射散去的热量〕〔W〕;

H——进出风口的高度差〔cm〕;

△t ==t2-t1——设备内部空气温度t2与外部空气温度t1之差〔0C〕。

(7)通风口的结构形式很多,有金属网,百叶窗等等,设计时要根据散热需要,既要使其结构简单,不易落灰,又要能满足强度,电磁兼容性要求和美观大方。

(8)密封机壳的散热主要靠对流和辐射,决定于机壳表面积和黑度,可以通过减小发热器件与机壳的传导热阻,加强内部空气对流(如风机)增加机壳表面积(设散热筋片)和机壳表面黑度等来降低内部环境温度。

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