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更新时间:2024.04.27
XRF玻璃熔片法测定石英砂主次痕量组分

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在硅砂、硅石标样中引入分析纯Fe2O3、TiO2、Cr2O3熔融制备标准样片,应用X射线荧光光谱法同时测定石英砂中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Na2O、K2O、Fe2O3、TiO2及Cr2O3,建立了石英砂成分校准曲线,解决了石英砂中痕量元素分析标准样品不足的问题。采用理论α系数和经验系数校正法克服了谱线重叠干扰和基体效应影响。用标准样品及未知矿物样品验证了方法的精密度和准确度,其结果与化学法的分析结果相符合。

XRF玻璃熔片法测定石英砂主次痕量组分

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在硅砂、硅石标样中引入分析纯Fe2O3、TiO2、Cr2O3熔融制备标准样片,应用X射线荧光光谱法同时测定石英砂中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Na2O、K2O、Fe2O3、TiO2及Cr2O3,建立了石英砂成分校准曲线,解决了石英砂中痕量元素分析标准样品不足的问题。采用理论α系数和经验系数校正法克服了谱线重叠干扰和基体效应影响。用标准样品及未知矿物样品验证了方法的精密度和准确度,其结果与化学法的分析结果相符合。

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