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更新时间:2024.04.27
热电阻及其测温原理

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在工业应用中,热电偶一般适用于测量 500℃以上的较高温度。对于 500℃以下 的中、低温度,热电偶的输出的热电势很小,这对二次仪表的放大器、抗干扰措 施等的要求就很高,否则难以实现精确测量;而且,在较低温区域,冷端温度的 变化所引起的相对误差也非常突出。 所以测量中、低温度一般使用热电阻温度测 量仪表较为合适。 1、 热电阻的测温原理 与热电偶的测温原理不同的是, 热电阻是基于电阻的热效应进行温度测量的, 即 电阻体的阻值随温度的变化而变化的特性。 因此,只要测量出感温热电阻的阻值 变化,就可以测量出温度。目前主要有金属热电阻和半导体热敏电阻两类。 金属热电阻的电阻值和温度一般可以用以下的近似关系式表示,即 Rt=Rt0[1+α(t-t0 ) ] 式中, Rt 为温度 t 时的阻值; Rt0 为温度 t0(通常 t0=0℃)时对应电阻值; α 为温度系数。 半导体热敏电阻的阻值和温度关

四线制检测法测量热电阻的测温原理探究

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文章从四线制检测法测量热电阻的电路原理入手,通过建立电路模型的方式,对其测温原理展开研究,并对使用该检测法检测三线制和四线制热电阻时为何能消除热电阻内部引线电阻影响,而检测两线制热电阻时却不能消除该影响的原因进行了详细阐述。

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