HAST高度加速老化试验箱

型号 ：PCT-250 PCT-350 PCT-450

PCT-550 PCT-250 MPCT-350 M

控制器：微电脑饱和蒸气温度 时间 压力显示独立控制器

分辨率：温度：0.1压力：指针式0.1

控制稳定度：温度：±0.5℃，湿度：100%

内箱材质：SUS316#不锈钢

外箱材质：高级钢板烤漆或不锈钢（依客户选择）

尺寸（cm）内箱：Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55

Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45

外箱： W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135

W860×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125

温度范围：110℃～132℃ 110℃～147℃ ;湿度范围100%RH饱和蒸气;

压力范围表压力 0.2～2.0kg/cm2表压力 0.2～3.5kg/cm2;

加压时间大约45分钟大约55分钟;

循环方式水蒸气自然对流循环;

HAST高度加速老化试验箱内胆采用圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。

标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量。

具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。

HAST锅门若未关紧则机器无法启动.

当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压.

当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.

特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.

手动安全保护排压伐.

试验目的是为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，随着半导体可靠性的提高，大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。

需最新优化设计,美观大方，做工精细。

具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。

饱和或不饱和的湿度控制。

拥有与试样数量相吻合的试样信号施加端子。

感温器检测保护，第一阶段高温保护，第一阶段高压保护，箱门压力限制，水箱缺水报警断电，温度加热器保护，湿度加湿器保护，第二阶段高温保护，第二阶段高压保护，第三阶段紧急泄压保护，，手动泄压保护，自动泄压等。2100433B

型号:HAST-250、HAST-350、HAST-250 D、HAST-350 D、HAST-250 M、HAST-350 M

尺寸（cm）

内箱:Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45

外箱 :W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135 W86×H135×D145

W56×H65×D105 W66×H105×D125

温度范围:105℃～132℃ 105℃～142.9℃ 105℃～155℃

压力范围: 表压力 0.2～2.0kg/cm2 表压力 0.2～3.0kg/cm2 表压力 0.2～3.5kg/cm2

湿度范围:65%～100%RH（可调）

控制器:HAST-6890 型专用控制器，中英文表示，具USB接口，R-232C接口.数据曲线下载

分辨率:温度：0.1℃，湿度：0.1%RH ，压力： 0.1 kg/cm2

温湿度波动范围:非饱和控制：±0.5℃ / ±2.5%RH 、湿润饱和控制：±0.5℃ / 100%RH

温湿度均匀度:±0.5℃ / ±5%RH

偏压端子: 无标配8条（8～55条可选），交直流125V 1A

气源增压:有外接气源

加压时间:大约45分钟 大约50分钟 大约55分钟

循环方式:风叶强制对流循环

内箱材质 :SUS316#不锈钢

外箱材质:冷轧钢板防静电喷涂

绝缘材料:玻璃棉

压力容器:加热器、加湿器、温度传感器、试样信号端子、对流风扇、对流风扇电动机、防过热/干烧检测端子

试样架:试样隔板（2层），可定制专用试样架

控制面板:控制器、电源开关键、工序显示灯、报警灯、机械压力表、手动紧急泄压阀、USB接口、R-485接口

通信功能:RS-485

供水方式:自动供水

安全保护:试验时全程检测超温超压保护，第一阶段仪表内部超高温保护，第二阶段仪表内部加湿器缺水保护，高压力保护，水箱缺水报警断电，第二阶段加湿管极限温度保护，第二阶段超高压保护，第三阶段紧急泄压保护，手动泄压保护，自动泄压等。

HAST高度加速老化试验机（又名HAST高压加速老化试验机）试验目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验 。