X射线荧光显微分析仪
X射线荧光显微分析仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2005年6月8日启用。
X射线荧光显微分析仪基本信息
| 中文名 | X射线荧光显微分析仪 | 产 地 | 日本 |
|---|---|---|---|
| 学科领域 | 材料科学 | 启用日期 | 2005年6月8日 |
| 所属类别 | 分析仪器 > X射线仪器 > X射线荧光光谱仪 | ||
材料分析，微区成分分析，光学图像观察，内部异物分析，图像处理。 2100433B
X射线荧光显微分析仪造价信息
分析元素Na-U，能量分辨率FWHM<150eV，最大可分析样品400mm×350mm×150mm，X射线束径10um、100um。
X射线荧光显微分析仪常见问题
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仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻...
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优点：原装进口电制冷探测器，可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素，精度高、测量时间短，它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域特点：1. 同时分析元素周期表中由钠（Na...
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X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由...
X射线荧光显微分析仪文献
X射线荧光分析仪在水泥生产中的应用
X 射线荧光分析仪在水泥生产中的应用 祝建清 ，吴松良 （浙江红火集团 江山虎球水泥有限公司 ，浙江 江山 324109） 中图分类号：TQ172.16 文献标识码：B 文章编号：1002－9877（2009）04-0050-04 我公司 于 2008 年 5 月份 引进一台 Venus200 X 射线荧光 分析仪，经过 5 个多月的使用和维护 ，建立 了生料、熟料、废铝土 、石 煤渣、石灰石和铜矿渣 6 条 工 作曲 线 ，能较 稳 定分析各种物料中的 SiO2、Al 2O3、 Fe2O3、CaO、MgO、K2O 和 Na2O 的含量，为生料配料和 2 样片的制备 在水泥行业的应用中 ，熔片法虽然能消除颗粒效 应及矿物效应 ，准确性较好 ，但因操作费时 、成本较高 而尚未被广泛采用 ；压片法则操作简单 、快速 ，是目前 国内水泥厂主要采用的 XRF 制样方法 。我公司采用 压片法 。 2
X射线荧光分析仪测量室粉尘污染防治
我公司使用的帕纳科公司AXIOS 2.4kW扫描型顺序式X射线荧光分析仪,采用硼酸衬底粉末压片法制样。使用不到4个月,因进样位置底部密封圈受污染引起测量室真空报警,只能停机维护。1原因分析1)与先前使用的飞利浦公司的PW1660固定道同时式X射线荧光分析仪相比,两台仪器X光管照射试样的方式不同,前者为上照射式,后者为下照射式,因而样品传送系统不同(见图1),在样片传送过
X射线荧光分析仪器分类
根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也 就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。
通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。
根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器;用X射线发生器(又称X光管)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。
就能量色散型仪器而言，根据选用探测器的不同，X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。
根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称 呼多用于能量色散型仪器。
在波长色散型仪器中，根据可同时分析元素的多少可分为，单道扫描X荧光光谱仪、小型多道X荧光光谱仪和大型X荧光光谱仪。
1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素
的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
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