集束接口与常规电缆插损对比

对于集束接口，一个潜在的问题是集束电缆的线损要略高于智能天线上的常规电缆。这是由于集束化的需要，电缆的内芯常采用的线缆，比常规电缆的芯线略细，因此单位长度的损耗也要高一些。为了解决长距离传输损耗问题，可以采用集束电缆拼接常规电缆的方式：天线端口采用一小段集束电缆，以方便安装；到RRU的连接部分则拼接常规电缆，损耗较小。集束电缆与常规电缆及不同拼接方式下插入损耗的比较见表1。

表1 集束电缆与常规电缆插损对比（单位：dB）

（续表）

从上表可以看出，当集束电缆的长度超过3m时，其损耗的增加越来越明显。因此，对于天线和RRU距离较远的情形，直接使用集束电缆的确会引起更高的损耗。另外，如果只在天线端采用较短的集束电缆，然后改接常规电缆，则比常规电缆的损耗只高约0.5dB（即便电缆加长也是如此）。因此，当应用内置合路器天线或独立电调智能天线时，建议根据天线和RRU的距离灵活选取馈线方案，以尽量降低馈线损耗的影响。

集束型接口将多根射频电缆包覆在一个防护套管里，分为4联和5联集束组件，可以有效减少电缆数量。按集束设计的接口可以减少80%的接头和馈线数量；集束接口的防护套管采用高精密度结构，具有高可靠性；同时采用了防误插结构，给施工带来便利。集束线缆外观示意和安装实景如图2所示。

图2 集束线缆外观示意和安装实景

集束接口是共天馈建设时智能天线（如FA/D内置合路器天线、FA/D独立电调天线等）理想的接口方案。由于共天馈天线通道数更多，使用常规N型接口在工程安装上几乎无法实现，而采用集束接口可有效解决这一问题。另外，小型化天线也可以考虑使用集束接口进一步降低其安装复杂度。

智能天线众多的通道使得线缆和接头数大量增加，形成影响视觉的“大辫子”，一方面给工程施工带来很大不便，另一方面也降低了系统的可靠性。为了满足未来TD-LTE系统大规模应用需求，业界提出了集束接口解决方案，如图1所示。

由于密集城区是LTE部署的重点区域，灵活的天线部署方案将成为未来天馈建设的重要需求，同时也是难点所在。结合LTE技术发展的趋势及运营需要，未来天馈的设计将着重考虑以下“四化”目标：

— 宽带化：支持超宽带多天线技术和双极化8通道设计方案；

— 多模化：支持BF/MIMO，覆盖3G/4G需求；支持未来MU-MIMO技术；

— 简易化：与电调、远端控制等技术相结合；支持集束接口，减少接头数量；

— 小型化：发挥城区及密集城区应用设计特色，减小天线尺寸以获得安装空间。