ICP原子发射光谱仪

每种化学元素的气态原子或离子激发后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成和含量。 2100433B

观测方式：垂直观测和水平观测 功率输出：750~1500 W 频率：40.68 MHZ 光谱范围：165-850 nm 精度：±0.1 nm 光学分辨率：0.006 nm在200 nm处 稳定性：1小时RSD<1%，4小时RSD<2% 检出限：大多数元素可达0.1-1ppm。

原子发射光谱特征谱线

原子发射光谱分析法的特点：

⑴可多元素同时检测各元素同时发射各自的特征光谱；

⑵分析速度快试样不需处理，同时对几十种元素进行定量分析（光电直读仪）；

⑶选择性高 各元素具有不同的特征光谱；

⑷检出限较低 10～0.1mg×g-1（一般光源）；ng×g-1(ICP）

⑸准确度较高 5%～10% （一般光源）； <1% (ICP) ；

⑹ICP-AES性能优越线性范围4～6数量级，可测高、中、低不同含量试样；

缺点：非金属元素不能检测或灵敏度低。

在正常状态下，元素处于基态，元素在受到热（火焰）或电（电火花）激发时，由基态跃迁到激发态，返回到基态时，发射出线状光谱。不同元素由于原子结构不同，产生的光谱线具有特征性，所以称为特征谱线。在原子发射光谱分析中又提出来元素的共振线、灵敏线、最后线和分析线。

原子发射光谱共振线

原子的核外电子在不断运动而处于一定的能级，具有一定的能量。正常情况下原子处于稳定的能量最低状态称为基态。原子的外层电子获得能量后，从基态跃迁到高能级上，处于这种状态的原子称为激发态。激发态也有很多个，能级由低到高，依次称为第一激发态、第二激发态，等等。 处于激发态的原子很不稳定，在极短的时间内便跃迁到基态或低能态而产生发射光谱线。通常把从激发态跃迁到基态的谱线称为共振线；把由第一激发态跃迁到基态产生的谱线称为：第一共振发射线线，简称第一共振线。

原子发射光谱灵敏线

第一共振线的产生，是由于跃迁到低能级时释放出多余的能量，是以一定波长形式的电磁波辐射的。因为第一共振线最易发生，能量最小，所以称为灵敏线。例如，Mg285.21nm ，就是第一共振线，也是灵敏线 。

原子发射光谱法（AES），是利用原子或离子在一定条件下受激而发射的特征光谱来研究物质化学组成的分析方法。根据激发机理不同，原子发射光谱有3种类型：

①原子的核外光学电子在受热能和电能激发而发射的光谱，通常所称的原子发射光谱法是指以电弧、电火花和电火焰（如ICP等）为激发光源来得到原子光谱的分析方法。以化学火焰为激发光源来得到原子发射光谱的，专称为火焰光度法。

②原子核外光学电子受到光能激发而发射的光谱，称为原子荧光。

③原子受到X射线光子或其他微观粒子激发使内层电子电离而出现空穴，较外层的电子跃迁到空穴，同时产生次级X射线即X射线荧光。在通常的情况下，原子处于基态。基态原子受到激发跃迁到能量较高的激发态。激发态原子是不稳定的，平均寿命为10^-10～10^-8秒。随后激发原子就要跃迁回到低能态或基态，同时释放出多余的能量，如果以辐射的形式释放能量，该能量就是释放光子的能量。因为原子核外电子能量是量子化的，因此伴随电子跃迁而释放的光子能量就等于电子发生跃迁的两能级的能量差。

根据谱线的特征频率和特征波长可以进行定性分析。常用的光谱定性分析方法有铁光谱比较法和标准试样光谱比较法。

原子发射光谱的谱线强度I与试样中被测组分的浓度c成正比。据此可以进行光谱定量分析。光谱定量分析所依据的基本关系式是I=acb，式中b是自吸收系数，α为比例系数。为了补偿因实验条件波动而引起的谱线强度变化，通常用分析线和内标线强度比对元素含量的关系来进行光谱定量分析，称为内标法。常用的定量分析方法是标准曲线法和标准加入法。

原子发射光谱分析的优点是：

①灵敏度高。许多元素绝对灵敏度为10-11～10-13克。

②选择性好。许多化学性质相近而用化学方法难以分别测定的元素如铌和钽、锆和铪、稀土元素，其光谱性质有较大差异，用原子发射光谱法则容易进行各元素的单独测定。

③分析速度快。可进行多元素同时测定。

④试样消耗少（毫克级）。适用于微量样品和痕量无机物组分分析，广泛用于金属、矿石、合金、和各种材料的分析检验 。

可分析元素周期表中的绝大部分元素，适用于各种样品中元素含量的分析。广泛用于材料、环境、地质、石化、生物等领域。 2100433B 解读词条背后的知识 北京吉天仪器 专注实验室分析仪器综合服务

ICP光谱仪主要性能指标-北京吉天ICP-5000

电感耦合等离子体发射光谱仪 （ICP-OES）ICP光谱仪的主要性能指标是检出限、短时间稳定性、长时间稳定性和仪器分辩率，测试这些指标需要几乎一整天的时间，好在这些指标在仪器安装调试时是必需要做的，考察仪器时，可以着重查看现有同类型仪器的实际验收报告，以证实所考察仪器的性能...