封装引线间电容和引线负载电容测试方法

《封装引线间电容和引线负载电容测试方法(GB/T 16526-1996)》于1997年5月第一版、第一次印刷。本标准等效采用半导体设备与材料国际组织(SEMI)的国际标准SEMIG24-89《测量封装引线的引线间电容和负载电容》。由中华人民共和国电子工业部提出、全国集成电路标准化分技术委员会归口。并由中华人民共和国国家技术监督局于1996年9月发布,并于1997年5月实施。

封装引线间电容和引线负载电容测试方法基本信息

外文名称 Test Method Measuring the Lead-to-Lead and Loading Capacitance of Package Leads 书名 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
作者 国家技术监督局 出版日期 1997年5月1日
语种 简体中文 ISBN 155066113683
出版社 中国标准出版社 页数 2页
开本 16 品牌 北京劲松建达科技图书有限公司

《封装引线间电容和引线负载电容测试方法(GB/T 16526-1996)》由中国标准出版社出版。

封装引线间电容和引线负载电容测试方法造价信息

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封装引线间电容和引线负载电容测试方法文献

通信电缆线对电容不平衡测试方法的研究 通信电缆线对电容不平衡测试方法的研究

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分析了传统的通信电缆线对电容不平衡测试方法的不足,提出简便和新颖的多线对电容耦合测试方法,并给予了证明。同时介绍了线对电容不平衡测试方法的实现过程。

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在用电容抑制电磁打扰时,最简单忽视的疑问即是电容引线对滤波作用的影响。电容器的容抗与频率成反比,正是使用这一特性,将电容并联在信号线与地线之间起到对高频噪声的旁路作用。但是,在实践工程中,很多人发现这种办法并不能起到预期滤除噪声的作用,面对顽固的电磁噪声束手无策。出现这种状况的一个原因是疏忽了电容引线对旁路作用的影响。

理想电容的阻抗是跟着频率的升高降低,在频率较低的时分,出现电容特性,即阻抗随频率的添加而下降,在某一点发作谐振,在这点电容的阻抗等于等效串联电阻ESR。在谐振点以上,因为ESL的作用,电容阻抗跟着频率的增加而增加,这是电容出现电感的阻抗特性。在谐振点以上,因为电容的阻抗增加,因而对高频噪声的旁路作用削弱,甚至不见。

电容的谐振频率由ESL和C一起决议,电容值或电感值越大,则谐振频率越低,也即是电容的高频滤波作用越差。ESL除了与电容器的品种有关外,电容的引线长度是一个十分重要的参数,引线越长,则电感越大,电容的谐振频率越低。因而在实践工程中,要使电容器的引线尽量短,电容器的准确装置办法和不准确装置办法。

2003年7月2日,《封装引线电阻测试方法》发布。

2003年10月1日,《封装引线电阻测试方法》实施。

从表面组装元器件封装体向外伸出并向下伸展,然后向内弯曲形似英文字母 "J"的引线。

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