IC卡检测仪简介

X射线IC卡检测仪

X射线IC卡检测仪是使用X射线技术对IC卡进行检测的一种设备，它通过发生X射线，对IC卡进行射线照射，再由设备的成像探测器接收经过照射并穿过IC卡后的X射线，并通过计算机呈现黑白的透视检测画面。

专用的X射线IC卡检测仪到2013 年为止业内有HSCreate(恒胜创新)的BJI-G型。

X射线IC卡检测仪用途:检测IC磁卡内部的电路、芯片内部焊点、内部导体结构。 IC卡检测仪参数

IC卡扭弯测试仪 IC卡扭矩测试仪 IC卡弯曲测试仪 IC卡弯曲试验机 IC卡试验机 IC卡弯曲性能测试机 IC扭矩测试仪本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;外形尺寸:L670 X W380 X H220

本仪器针对性IC卡在国标16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;

外形尺寸:L670 X W380 X H220

测试速度:弯曲 29r/min

测试周期:1~999次

扭曲度 :15°±1° 双向

IC卡接口电路对IC卡插入与退出的识别，即卡的激活和释放，有很严格的时序要求。如果不能满足相应的要求，IC卡就不能正常进行操作；严重时将损坏IC卡或IC卡读写器。

(1)激活过程

为启动对卡的操作，接口电路应按图1所示顺序激活电路：

◇RST处于L状态；

◇根据所选择卡的类型，对VCC加电A类或B类，

◇VPP上升为空闲状态；

◇接口电路的I/O应置于接收状态；

◇向IC卡的CLK提供时钟信号(A类卡1~5MHz，B类卡1~4MHz)。

在t'a时间对IC卡的CLK加时钟信号。I/O线路应在时钟信号加于CLK的200个时钟周期(ta)内被置于高阻状态Z(ta 时间在t'a之后)。时钟加于CLK后，保持RST为状态L至少400周期(tb)使卡复位(tb在t'a之后)。在时间t'b，RST被置于状态H。I/O上的应答应在RST上信号上升沿之后的400~40 000个时钟周期(tc)内开始(tc在t'b之后)。

在RST处于状态H的情况下，如果应答信号在40 000个时钟周期内仍未开始，RST上的信号将返回到状态L，且IC卡接口电路按照图2所示对IC卡产生释放。

(2)释放过程

当信息交换结束或失败时(例如，无卡响应或卡被移出)，接口电路应按图2所示时序释

IC卡

放电路：

◇RST应置为状态L；

◇CLK应置为状态L(除非时钟已在状态L上停止)；

◇VPP应释放(如果它已被激活)；

◇I/O应置为状态A(在td时间内没有具体定义)；

◇VCC应释放。

IC卡接口电路应能在表1规定的电压范围内，向IC卡提供相应稳定的电流。

IC卡接口电路向卡提供时钟信号。时钟信号的实际频率范围在复位应答期间，应在以下范围内：A类卡，时钟应在1~5MHz；B类卡，时钟应在1~4MHz。

复位后，由收到的ATR(复位应答)信号中的F(时钟频率变换因子)和D(比特率调整因子)来确定。

时钟信号的工作周期应为稳定操作期间周期的40%~60%。当频率从一个值转换到另一个值时，应注意保证没有比短周期的40%更短的脉冲。

​IC卡是继磁卡之后出现的又一种新型信息工具。IC卡是指集成电路卡，一般用的公交车卡就是IC卡的一种，一般常见的IC卡采用射频技术与IC卡的读卡器进行通讯。IC卡与磁卡是有区别的，IC卡是通过卡里的集成电路存储信息，而磁卡是通过卡内的磁力记录信息。IC卡的成本一般比磁卡高，但保密性更好。

非接触式IC卡又称射频卡，成功地解决了无源(卡中无电源)和免接触这一难题，是电子器件领域的一大突破。主要用于公交、轮渡、地铁的自动收费系统，也应用在门禁管理、身份证和电子钱包。

IC卡的缺点是制造成本高。