最新集成电路测试技术基本信息

书名 最新集成电路测试技术 作者 高成 王香芬
ISBN 9787118060713 定价 35.00 元
出版社 国防工业出版社 出版时间 2009年02月
开本 16开

第1章 集成电路测试概述

第2章 数字集成电路测试技术

第3章 半导体存储器测试技术

第4章 模拟集成电路测试技术

第5章 数模混合集成电路测试技术

第6章 DSP在混合电路测试中的应用

第7章 SOC测试技术

第8章 IVDQ测试

第9章 DC-DC参数测试方法

第10章 集成电路测试系统

第11章 设计到测试的链接

第12章 测试接口板DIB设计技术

参考文献

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最新集成电路测试技术造价信息

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13% 江西省士林电气实业有限公司
功率(W):15;品种:普通型铃;防护等级:IP54;额定压(V):220 查看价格 查看价格

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《最新集成电路测试技术》系统介绍了常用集成电路测试的原理、方法和技术,范围涵盖了数字集成电路、模拟集成电路、SOC器件、数字/模拟混合集成电路、电源模块、集成电路测试系统、测试接口板设计等方面。主要为从事IC测试相关人员全面掌握各类集成电路的测试技术打下良好基础。

《最新集成电路测试技术》首先介绍了集成电路测试的基本概念和理论,包括集成电路测试的基本原理、测试的分类、测试的作用等,然后分别对数字集成电路、存储器、各类模拟集成电路、数字/模拟混合电路、SOC、DC-DC模块的测试方法和技术进行了深入细致的介绍,在此基础上对IDDQ测试技术以及IC设计到测试的瓶颈和融合问题进行了详细阐述,并以当前主流大规模集成电路测试系统Sapphire为例,详细介绍了现代集成电路测试系统(ATE)的软、硬件架构和特点,最后在DIB测试接口板设计技术中深入论述了ATE测试的重要环节负载板(DIB)的设计技术问题。

《最新集成电路测试技术》可作为从事集成电路设计、测试、应用和集成电路测试设备开发的研究人员、技术人员以及计划进入集成电路测试领域的相关人员的学习或培训教材,也可作为高等院校相关专业本科或研究生的教学参考书。

最新集成电路测试技术常见问题

  • 如何查找集成电路的技术参数

    ①、关于以上如何查找集成电路芯片的技术参数,向这问题,首先用指针万表的Rx1K档黑表笔接地,红表笔分别接集成电路芯片1脚以此类推测量,测量完后记下对地电阻值(这是第一次测量结果)。②、然后在用红表笔接...

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最新集成电路测试技术文献

集成电路测试 集成电路测试

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页数: 16页

评分: 4.6

第一章 集成电路的测试 1.集成电路测试的定义 集成电路测试是对集成电路或模块进行检测, 通过测量对于集成电路的输出回应和预期 输出比较, 以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程, 是验证设计、 监控生产、 保证 质量、分析失效以及指导应用的重要手段。 .2.集成电路测试的基本原理 输入 X 输出回应 Y 被测电路 DUT(Device Under Test)可作为一个已知功能的实体,测试依据原始输入 x 和网络功能集 F(x),确定原始输出回应 y,并分析 y是否表达了电路网络的实际输出。因 此,测试的基本任务是生成测试输入, 而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器 件,并分析其输出的正确性。 测试过程中, 测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测 器件的原始输入管脚, 第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应, 最后经过分析处 理得到测试结果。 3.集成电路故障与测

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集成电路卡标准精选(最新) 集成电路卡标准精选(最新)

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集成电路卡标准精选(最新) G14916《GB/T 14916-2006 识别卡 物理特性》 G15694.2《GB/T15694.2-2002 识别卡发卡者标识 :申请和注册规程》 G16649.1《GB/T 16649.1-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 :物理特性》 G16649.2《GB/T 16649.2-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 :触点的尺寸和位 置》 G16649.3《GB/T 16649.3-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第 3 部分 :电信号 和传输协议》 G16649.4《GB/T 16649.4-2010 识别卡 集成电路卡 第 4部分 :用于交换的结构、 安全和命令》 90.00 G16649.5《GB/T16649.5-2002 识别卡带触点的集成电路卡:应用标识符的编号 体系》 G16649.6《GB/T16649.6-2001 识别

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本书收集国外刊物以及编者多年来实践的集成电路21类300余例,涉及面广,从常用的基本电路到新近推出的专用电路,另有20多种最新集成芯片的典型应用。这些电路设计新颖,性能优良,实用性强。读者可根据需要稍加修改,应用到自己的电子电路设计中,能使设计性能达到最优。

本书可供电子产品开发设计人员、工程技术人员、大专院校师生以及业余爱好者参考使用。

计量与测试技术出版发行

据2020年8月6日中国知网显示,《计量与测试技术》共出版文献10725篇 。

据2020年8月6日万方数据知识服务平台显示,《计量与测试技术》共载文 9348篇、基金论文量为392篇 。

计量与测试技术收录情况

《计量与测试技术》是中国学术期刊(光盘版)入选期刊、中国学术期刊全文数据库全文收录期刊、中国学术期刊综合评价数据库统计源期刊、万方数据—数字化期刊源期刊、中国科技核心期刊数据库源期刊、中国核心期刊(遴选)数据库源期刊 。

计量与测试技术影响因子

据2020年8月6日中国知网显示,《计量与测试技术》总被下载802602次、总被引18516次,(2019版)复合影响因子为0.130、(2019版)综合影响因子为0.082 。

据2020年8月6日万方数据知识服务平台显示,《计量与测试技术》被引量为17378次、下载量为198737次;据2018年中国期刊引证报告(扩刊版)数据显示,该刊影响因子为0.31(工程与技术科学基础学科刊均影响因子为0.54),在全部统计源期刊(6719种)中排第5187名 。

《测试技术(第2版)》是普通高等教育“十一五”国家级规划教材,是教育部新世纪网络课程“机械工程测试技术”的主要参考书之一。《测试技术(第2版)》系统地阐述了测试技术的研究对象、理论基础以及典型物理量的测试方法。《测试技术(第2版)》以加强学科基础、培养读者动手能力为宗旨,着重叙述基本的测试原理、信号的分析与处理方法、测试系统的特性以及测试技术的发展趋势,并在此基础上,对位移、振动、噪声、力、扭矩、压力、温度、流量等的测试分别进行了阐述。为了帮助读者掌握各章内容,每章后设有一定量的习题。

本次修订增加了测量误差理论、数据处理和实验指导原则等章节,以使学生能够更加全面地了解和掌握测试技术的内容。

《测试技术(第2版)》可作为高等学校本科机械类各专业“测试技术”课程的教材,也可作为自动控制、仪器仪表类有关专业“测试技术”课程的教材。同时,对工厂、科研单位以及其他从事机械工程性能试验和机电一体化产品设计、开发的工程技术人员亦有参考价值。

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