TESA MICRO HITE系列测高仪

TESA MICRO HITE系列测高仪是一种用于一维和两维的几何坐标测量 – 内外长度、高度、深度、阶梯尺寸和距离的仪器。

SMM GROUP尚铭计量科技集团主要代理HEXAGON海克斯康计量产品；瑞士TESA量具量仪；是目前海克斯康集团在中国最大最专业的代理商之一；尚铭目前在中国境内已经形成区域性的服务销售网络；我们以上海为行政总部；华东（苏州）和华南（东莞）2大产品展示服务培训中心；逐步计划设立华北（北京）西南（重庆）华中（武汉）福建（厦门）4个办事机构；全力推广和服务海克斯康TESA计量产品；我们率先在业界成立客户服务中心和 专业的计量产品网上商城支持在线购买！全心全意服务中国制造业用户！

TESA MICRO HITE 测高仪系列包括2种：1）TESA MICRO HITE 型号（手动机系列） 和TESA MICRO HITE plus M加强型号（自动机系列）

1）TESA Micro Hite 具有自成一体的设计理念, 非常适合于一维和两维的几何坐标测量 – 内外长度, 高度,深度,阶梯尺寸和距离.

自动搜索最高和最低点的功能及其对最大最小值及其差值的记忆能力使之成为圆形尺寸的测量有效工具.

外加TESA 1G-13(选加附件)则更能按照ISO1101标准测量垂直度, 直线度, 平行度和端跳.

此测高仪安装在镀镍的坚固底座上, 底座上配有三个精密抛光支承, 气浮可使测高仪在测量平台上轻松移动.

金属光栅尺带有零位参考点, 测量头安装在滚珠轴承上, 驱动系统可锁定并进行微调(需选加附件).

计算机误差补偿更提高了长度,直线度和垂直度的测量精度.

2）TESA MICRO HITE PLUS M系列

TESA MICRO-HITE plus M 具有独特的测量功能又使用方便. 富有创意的运动控制旋转扭将快速手动和精确的机动控制有机的结合起来.

坚固的一体化结构设计, 使的此仪器既可以在车间使用,也可以在计量室使用.

计算机数据辅助修正, 修正数据存储在电子芯片中,在测量长度时被提出来对测量结果进行补偿, 更提高了此仪器的测量精度.

此仪器特别适合于一维或两维的几何量如内外长度,直径, 高度, 深度, 和距离的测量. 配合其他附件,还可进行直线度和垂直度的测量.

TESA-HITE or TESA MICRO-HITE,无论手动还是自动，都不需要专业的技能，几乎所有生产线的人可以轻松的掌握使用。

SCS校验证书

TESA-HITE和TESA MICRO-HITE生产线有了自己的由SCS认证合格的温度控制实验室，因此，每一款测高仪都包含有免费的SCS的校验证书。

几乎可以忽略的温度变化(20°C ±0,1°)，以及采用高精度的步距规，在校验过程中可以做到最低的测量不确定度。

第一步，所有已装配完成的测高仪系统误差的自动补偿所需要的数值将通过计算机辅助精度(CAA)获得。

一旦计算完毕，每个单一的补偿值将被存储在测高仪内存中以便在校验中自动的对测量值做出校正修改。

最后，基于通过测量另外一个步距规所获得的一系列测量数据得到相关的校验证书，校验步骤和SCS都确保每一款测高仪可以追溯到国家标准。2100433B

瑞士TESA 公司，Hexagon 计量产业集团旗下的世界著名量具量仪制造商，有着60 多年的制造历史并以瑞士品 质的精密制造享誉业界。具备60 多年精密制造经验的瑞士TESA 公司，是全球知名的精密计量设备制造商，拥有着超过5000 多种的量具量仪产品，广泛使用在生产部门、计量室、长度标准传递部门，为工业检测提供了强有力的配套能力，并进而为尺寸计量提供了全面的解决方案。

TESA 的代表性产品，多功能测高仪，能够解决大部分的位置公差测量要求，精度高，操作方便，在全球销量第一。TESA VISIO 三坐标像测量系统，能够完成微小尺寸和位置的成像测量。配备PC-DMIS 视觉检测模块，CAD 模型和视频图象能够通过CAD 的图像显示与影像显示的实际图像进行无缝关联，并包括手动十字线对准和边缘自动识别。同时，独特的脱机功能取代在线照相，利用CAD 照相功能，可模拟调光、聚焦和放大，从而在脱机情况下对视觉环境进行了控制。针对轴类工件测量过程中存在的测量速度慢、灵活性差的问题，TESA 公司最新推出了TESA SCAN 非接触轴类零件测量系统，并成功的将精度、速度和灵活性融为一体。TESASCAN 全自动测量系统，采用高分辨率的CCD 光学测头，能够工作在生产车间，通过编程，自动完成回转体工件的各种尺寸和角度的测量。

代表着瑞士产品的高品质、不断的技术创新以及优良的性能价格比，是瑞士TESA 在全球享有盛誉的关键因素，通过其遍及全球的分销机构和本地化的技术服务系统，瑞士TESA 将成为您身边的计量伙伴。

TESA-HITE或TESA MICRO-HITE测高仪几乎可以忽略的温度变化(20°C ±0,1°)，采用高精度的步距规，在校验过程中可以做到最低的测量不确定度。所有已装配完成的测高仪系统误差的自动补偿所需要的数值将通过计算机辅助精度(CAA)获得。一旦计算完毕，每个单一的补偿值将被存储在测高仪内存中以便在校验中自动的对测量值做出校正修改。