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更新时间:2024.04.27
基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案

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责任编辑:李健 86 www.eepw.com.cn2010.10 性更高 ,但是后者所需的信令开销更 少。由于上行链路的复杂性 ,来自其 他小区用户的干扰是不确定的 ,因此 基站无法精确估测出各个用户实际的 信干比 (SINR) 值。由于 SINR 值的不 准确性导致上行链路对于调制编码模 式 (MCS) 的选择不够精确 ,所以更多 地依赖 HARQ 技术来保证系统的性能 [7] 。因此 ,上行链路的平均传输次数 会高于下行链路 。所以 ,考虑到控制 信令的开销问题 ,在上行链路使用同 步非自适应 HARQ技术。 上行 HARQ时序 LTE TDD 制式的上下行信号在时 域上交错分布 ,因此其 HARQ 时序映 射关系较 FDD 更为复杂 。根据 3GPP TS 36.213规定 ,TDD 制式不同 UL/DL Configuration 下,下行子帧只在规定 位置发送 ACK/NA

是德科技TD-LTE基站性能测试方案

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是德科技 TD-LTE 基站性能测试方案 引言 LTE(Long Term Evolution 长期演进 )技术是第三代移动通信演进的主 要方向。作为一种先进的技术, LTE 系统在提高峰值数据速率、小区边缘速率、 频谱利用率、控制面和用户面时延以及降低运营和建网成本等方面拥有巨大的 优势。同时, LTE 系统与现有系统 (2G/2.5G/3G) 能够共存,并且实现平滑演进。 LTE 系统按照双工方式分为频分双工 (FDD)和时分双工 (TDD)两种。其中 LTE-TDD 制式相对于 FDD 制式具有频谱利用灵活、支持非对称业务等诸多优 势,是中国通信业界力推的国际标准。 系统吞吐率是衡量 TD-LTE 基站综合性能的重要指标。吞吐率的测试需要基 站(eNB)与测试仪器 (模拟 UE)之间实现实时反馈并动态调整。测试仪器不仅需 要能够生成符合 3GPP 标准的 TD-LTE 上行信号,同时

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